當前位置：廣州領拓儀器科技有限公司>>產品展示>>島津Shimazu 表面分析
可在大氣中簡單的進行高倍表面觀察，可直接觀察非導電樣品，并可精確測定樣品表面的高程差。探針可測定樣品的物理性質。追加可控氣氛分析室可升級為可控氣氛原子力顯微鏡
從軟件到硬件凝結了，鑄就了新一代EPMA。島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎上，又新增了簡單·易懂的操作性能，將電子探針功能發揮致。既可...
標準主機包含單色化Al Kα X射線源，可實現大面積XPS分析、小面積XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能。可提供的分析靈敏度。確保高能量分辨XP...
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